中圖儀器CEM3000超高分辨率臺式掃描電鏡是一款用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析的緊湊型設備践斟。它具有出色的電子光學系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率抵师，保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像顶赎，能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。

應用領域

該電鏡外型緊湊坤学，空間適用性強疯坤，整機采用大量的抗干擾設計，避免使用環(huán)境造成的影響深浮，拓寬了應用范圍压怠。同時，該系列臺式電鏡具有非常豐富的自動調節(jié)功能略号，能夠對不同類型的樣品進行觀測刑峡，具有高空間分辨率。

用戶可在CEM3000系列臺式掃描電鏡上搭配不同的探頭玄柠，同時接收多種信號突梦，對樣品進行分析。

應用范例：

不同于立式電鏡羽利，CEM3000超高分辨率臺式掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)宫患，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現(xiàn)所得結果这弧。

此外娃闲，該系列臺式電鏡也可以進入手套箱、車廂還是潛水器等狹小空間內大顯身手匾浪。即便在一些常規(guī)電鏡難以耐受的工作環(huán)境中逛徽，該系列臺式電鏡也能憑借抗振防磁技術，展現(xiàn)出色的性能蚜烹。

產(chǎn)品功能

1）臺式電鏡緊湊的外型穗免，CEM3000系列臺式掃描電鏡能夠不受場地尺寸制約，真正做到了空間適用性报案，用戶甚至可以將其就近擺放在自己的桌面上趋臼。同時CEM3000也能根據(jù)用戶需求，輕松移機，一臺機器多處開花簿翔；

2）高分辨率接骄，能夠對微尺寸特征進行觀測分析，滿足用戶的觀測需求牺会；

3）快速抽放氣锈犯，憑借真空系統(tǒng)設計，該系列臺式電鏡縮短了用戶抽放氣的等待時間铃挠；

4）高易用性邓星，能夠快速成像、一鍵出片应结，用戶使用自動調節(jié)功能刨疼，無需過多人工操作，就可得到高質量拍攝圖片鹅龄；

5）大樣品倉揩慕，CEM3000A在保證較小外型尺寸同時，具有比肩立式電鏡的大倉室扮休，從而容納更大尺寸樣品迎卤；

6）高抗振防磁性能，全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力玷坠，特別是CEM3000B使用本公司技術蜗搔，基于復合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度八堡；

7）可選配低真空模式樟凄，保證用戶能夠根據(jù)需要設定電鏡樣品倉內真空度，進而對不同類型的樣品進行觀測兄渺；

8）能夠提供多種成像參數(shù)供用戶選擇缝龄，滿足專業(yè)用戶的調節(jié)需求；

9）搭配有多種探頭寝典，能夠對樣品進行多種手段的分析林没。

性能特色

1、緊湊外型

該系列臺式掃描電鏡整機經(jīng)過深入優(yōu)化缅坯，在結構方面達到了優(yōu)尺寸利用率婶苦，確保其出色的性能不再受環(huán)境尺寸的制約，無論是日常的工作桌面怠播、還是狹小空間辑蛔，CEM3000系列臺式掃描電鏡總能陪伴用戶出現(xiàn)在有需要的地方。

2搀薛、自動調節(jié)

用戶可借助自動調節(jié)功能，無需過多人工調節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片稻填。

3字钓、高分辨率

CEM3000系列電鏡具有出色的電子光學系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率恰壁，保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像姊象，能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。

4晓褪、高抗振防磁性能

該系列臺式電鏡采用特殊設計的隔振措施堵漱，能夠減小環(huán)境中振動對電鏡的干擾，并且全系列電鏡具有強抗電磁干擾性能涣仿，消除場地因素對電鏡的影響勤庐。

其中CEM3000B更是采用本公司設計的高性能復合抗振系統(tǒng)來消除外界振動對電鏡的影響，即使是在高放大倍數(shù)下成像好港，用戶也不用擔心環(huán)境振動對電鏡產(chǎn)生的干擾愉镰。

5、選配低真空系統(tǒng)

根據(jù)用戶需求钧汹，可選配低真空系統(tǒng)丈探。該系統(tǒng)讓用戶可以任意設定電鏡工作時的倉內真空度(倉內真空度低可達100Pa)，以滿足不同類型樣品的觀測需求拔莱。

6碗降、操縱手柄

操作手柄上集成了多個方向位移控制，自動調整及自動對焦塘秦、自動消像散等功能讼渊，可快速完成觀測位置調整及自動成像。

7湾蝙、功能豐富

根據(jù)特定行業(yè)的需求宝猩，定制了自動化的顆粒度統(tǒng)計、孔隙率測量等選配功能惰绘。

可根據(jù)用戶需求提供全自動軟件定制服務孙远。

8、高精度樣品臺

該系列臺式電鏡采用全新設計的樣品臺蟀蛆，各自動軸均保證了動作精度和高重復性友熟。

9、高襯度成像系統(tǒng)

采集系統(tǒng)具有高信噪比男沛，使用戶在快速掃描時也能獲取到充足的信號栓占。即使針對微弱信號，CEM3000系列臺式電鏡搭載的處理算法亦可將信號從背底中進行高效剝離滞泣，確保成像質量橡彬。

部分技術指標

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